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15J
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15J
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2010-05-10
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产品编号
所属分类
测量显微镜
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-
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1
产品描述
一、 用途:
测量显微镜是光学计量仪器之一,它结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下:
1. 直角坐标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔外圆直径等等。
2. 转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。
3. 用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织纤维等等。
物 镜
|
目 镜
|
显微镜 放大倍数
|
工作 距离
|
视场 直径
|
||
放大倍数 / 数值孔径
|
焦距
|
放大倍数
|
焦距
|
|||
2.5 × / 0.08
|
43.40
|
10 × 带分划板 Reticle
|
25.00
|
25 ×
|
58.84
|
5.6
|
10 × / 0.25
|
17.13
|
100 ×
|
7.81
|
1.4
|
测量工作台读数装置主要规格
X-轴移动测量范围 50mm
Y-轴移动测量范围 13mm
测微器分度值 0.01mm
测量台转动范围 不限
测量台刻度盘分度范围 00 ~ 360 0
测量台刻度盘之分度值 10
测量台刻度盘游标读数示值 6"
测量精度:
仪器示值误差±(5+L/15)μm
仪器示值误差: 包括测量误差与仪器系统误差。
注: 测量地点温度变化(200 C±30 C)
L-被测件长度(mm)
仪器之主要尺寸:
测量台与物镜之间最大距离 80mm
测量工作台直径 120mm
仪器外形尺寸 高325×长262×宽220mm
仪器重量 约10.6Kg
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干涉显微镜
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测量显微镜XTZ-50JB
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